Máy đo trở kháng Hioki IM7587

Nhà sản xuất: Hioki

Các tính năng chính bao gồm:

Tần số nguồn thử 1 MHz đến 3 GHz
Tốc độ kiểm tra nhanh nhất 0.5 msec (thời gian đo tương tự)
0.07% biến đổi giá trị đo được (khi đo cuộn dây 1 nH ở tần số 3 GHz)
± 0.65% rdg. độ chính xác cơ bản
Kích thước thân nửa cọ và đầu kiểm tra kích thước bằng cọ
Kiểm tra tiếp xúc toàn diện (thông qua thử nghiệm DCR, từ chối Hi-Z hoặc dạng sóng)
Thực hiện quét tần số, quét mức và đo khoảng thời gian trong Chế độ phân tích

Danh mục: Máy đo trở kháng, Máy kiểm tra dòng điện điện áp Thẻ: Hioki IM7587, máy đo trở kháng, máy phân tích trở kháng

Mô tả
Thông tin bổ sung

Máy đo trở kháng Hioki IM7587: Tần số 1 MHz đến 3 GHz

Hioki IM7587 là máy đo và phân tích trở kháng với dải tần số từ 1 MHz đến 3 GHz. Máy đo trở kháng Hioki IM7587 đo cực nhanh chỉ 0,5 ms và độ ổn định cao. Lý tưởng cho R & D cũng như sản xuất khối lượng lớn các hạt chip ferit và cuộn cảm chip. Được sử dụng kết hợp với Test Fixture IM9201, có thể chứa sáu kích thước SMD, IM7580-01 cho phép bạn đo lường mẫu vật một cách dễ dàng và đáng tin cậy.

Máy đo trở kháng chính hãng Hioki được nhập trực tiếp từ Nhật Bản. Có khả năng chống va đập, chống nứơc chống bụi cao. Đây là loại máy chuyên đo đại lượng cản trở dòng điện với độ chính xác cao.

Máy đo trở kháng Hioki IM7587 đo cực nhanh

Máy đo trở kháng Hioki IM7587 là thiết bị đo trở kháng nối tiếp với máy đo IM3536. Cả hai đều có giải tần từ 1 đến 3Ghz. Thiết bị đo trở kháng IM7587 đưọc ứng dụng vào thử nghiệm các linh kiện điện từ. Ngoài ra Hioki còn mang tới các thiết bị đo trở kháng khác như: Máy phân tích trở kháng IM7580A chuyên đo và phân tích trở kháng, Thiết bị đo LCR Hioki IM3536 đây là thiết bị chuyên để đánh giá các đặc tính của linh kiện.

Bộ phân tích trở kháng IM7587 cung cấp thời gian đo cực trị 0.5ms trên dải tần số 1MHz đến 3GHz và tính ổn định cao, làm cho nó trở nên lý tưởng cho nghiên cứu và phát triển cũng như sản xuất hạt chip ferrite và bộ cảm ứng cuộn cảm.

Tính năng của máy đo trở kháng IM7587

Các tính năng chính bao gồm:

Tần số nguồn thử 1 MHz đến 3 GHz
Tốc độ kiểm tra nhanh nhất 0.5 msec (thời gian đo tương tự)
0.07% biến đổi giá trị đo được (khi đo cuộn dây 1 nH ở tần số 3 GHz)
± 0.65% rdg. độ chính xác cơ bản
Kích thước thân nửa cọ và đầu kiểm tra kích thước bằng cọ
Kiểm tra tiếp xúc toàn diện (thông qua thử nghiệm DCR, từ chối Hi-Z hoặc dạng sóng)
Thực hiện quét tần số, quét mức và đo khoảng thời gian trong Chế độ phân tích

Các thông số kỹ thuật của thiết bị đo Hioki IM7587

Chế độ đo lường	Chế độ LCR, chế độ phân tích (quét với tần số đo và mức đo lường), chế độ đo liên tục
Thông số đo	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
Phạm vi đo được	100 mΩ đến 5 kΩ
Dải hiển thị	Z: 0.00 m đến 9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m đến 9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n đến 9.99999 GH) / Q: ± (0.00 đến 9999.99) θ: ± (0.000 ° đến 180,000 °), Cs, Cp: ± (0,00000 p để 9,99999 GF) D: ± (,00000-9,99999), Y: (0,000 n để 9,99999 GS) G, B: ± (0,000 n để 9,99999 GS), Δ%: ± (0.000% đến 999.999%)
Độ chính xác cơ bản	Z: ± 0,65% rdg. θ: ± 0,38 °
Tần suất đo	1 MHz đến 3 GHz (độ phân giải cài đặt 100 kHz)